BW-4022A
晶体管直流参数测试系统
一、产品介绍:
BW-4022A 晶体管直流参数测试机是新一代针对半导体器件测试系统,经过我公司多次升级与产品迭代,目前测试性能、精度、测试范围及产品稳定度得到大幅提升,成为半导体电子行业、新能源行业、封装测试、家电行业、科研教育等领域来料检验、研发分析、产品选型等重要检测设备之一。
BW-4022A 晶体管直流参数测试机大规模 32 位 ARM&MCU 设计, PC 中文操作界面,高压源 2500V:选配 1.4KV-- 2KV,高流源 500A :选配 40A、100A、200A、300A 及以上。程控软件基于 Lab VIEW 平台, 填充调用式菜单操作界面,测试界面简洁灵活、人机界面友好。配合开尔文综合集成测试插座,只需要根据不同器件更换测试座配合系统自适应测试设置可完成大多数电子元件的静态参数参数, 系统内部配置因线路、接触性、及 EMC 引起的干扰进行自动补偿,确保测试结果准确度;针对 Si/SiC/GaN 材料的IPM/IGBT/MOS/DIODE/BJT/SCR 等高精度静态参数包括导通、关断、击穿、漏电、增益等直流参数进行精确测试。
该测试系统主要由测试主机和程控电脑及外部测试夹具(其他联机设备)三部分组成。
可对常见的 SOD/SOT/DO/TO/LL/DFN 等封装进行直接配置测试,对特殊封装夹具进行定制,通过 Prober 接口、Handler 接口可选(16Bin)连接分选机和机械手建立工作站,实现快速批量化测试,测试数据可在线存贮、导出,
高压源 2400V:(选配 1.4KV-- 2KV)
高流源 500A :(选配 40A.100A,200A.300A 及以上)
三、BW-4022A 可测试器件类型及测试项目:
(1)测试类型
▶二极管类:Diode/ZD(Zener Diode) /SBD(SchottkyBarrierDiode)/TVS/整流桥堆
▶三极管类:三极管/单双向可控硅/MOS/JFET/IGBT/三端功率驱动器/七端半桥驱动/高 边功率开关
▶保护类:压敏电阻/单组电压保护器/双组电压保护器
▶稳压集成类:三端稳压器/基准 IC(TL431) /四端稳压/稳压集成类
▶继电器类&光耦类&传感监测类
▶高压源 2400V:(选配 1.4KV-- 2KV)
▶高流源 500A :(选配 40A.100A,200A.300A 及以上)
▶栅极电压 40V/100mA 分辨率至 1.5uV / 1.5pA 精度可至 0.1%
▶支持“脉冲式自动加热”
▶支持“分选机”、”编带机“、“探针台”等半导体设备通信联机
(2)测试项目:
▶漏电参数:IR、ICBO、...
▶击穿参数:BVCEO BVCES ...
▶导通参数:VCESAT、VBESAT、VBEON、VF、VT、...
▶关断参数:VGSOFF ▶触发参数:IGT、VGT ▶保持参数:IH、IH+、IH-
▶锁定参数:IL、IL+、IL- ▶增益参数:hFE、CTR、gFS
▶间接参数:IL ▶混合参数:rDSON、gFS、Input Regulation、 Output Regulation
四、物理规格及电气环境:
主机尺寸:深 660*宽 430*高 210(mm)
主机重量:<28kg 电气环境
主机功耗:<300W
海拔高度:海拔不超过 4000m
环境要求:-20℃ ~ 60℃(储存)、5℃ ~ 50℃(工作)
相对湿度: 20%RH~75%RH (无凝露 ,湿球温度计温度 45℃以下)
大气压力:86Kpa ~106Kpa
防护条件:无较大灰尘 ,腐蚀或爆炸性气体 ,导电粉尘等
电网要求:AC220V、 ±10%、50Hz±1Hz
工作时间:连续
五、功能与配置:
1、设备配置选项
详见产品说明书。
2、设备配置选项
详见产品说明书。
3、测试种类及参数
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详见产品说明书。
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