检测依据按照GJB150.16-86和GJB150.5A-2009标准进行。
温度冲击试验:-60摄氏度~+85摄氏度,温度转换时间小于3分钟,高低温温度点各保持1小时,共循环10次;
正弦振动试验:5hz~5.5hz,位移峰峰值25.4mm;5.5hz~30hz,加速度15m/s2;30hz~50hz,位移峰峰值0.84mm;50hz~500hz,加速度42m/s2;扫频速率为1oct/min,振动三个相互垂的方向,每方向循环20次。
该被测设备在温度冲击和正弦振动试验后,外观结构无损坏,能正常读写数据,符合委托方的判决要求。