北京仪综所实验室位于北京市西城区广安门外大街甲397号,实验室地理位置极其优越,交通极其便利,实验室具备CNAS,CMA认可资质,专业的检测技术人员提供合理化的测试方案评估、测试大纲制定、试验数据的分析、试验后回归验证。一对一专业化检测技术服务,提供一站式服务,为您节省时间、人力和试验成本,测试工程师全程服务,实现交钥匙工程。
MTBF,即平均无故障工作时间,英文全称是“Mean Time Between Failure”。是衡量一个产品的可靠性指标。单位为“小时”。它反映了产品的时间质量,是体现产品在规定时间内保持功能的一种能力。具体来说,是指相邻两次故障之间的平均工作时间,也称为平均故障间隔。
可靠性试验主要的目的是对各类产品进行各类环境应力的筛选来激发产品的故障从而提供产品的可靠性水平。我们所说的可靠性试验,主要是指产品的可靠性寿命试验,可通过可靠性寿命试验了解产品的寿命特征和失效规律,并计算出产品的失效率和平均雾故障时间。
试验方案类型:
定时(定数)截尾试验方案
截尾序贯试验方案
序贯试验方案:
mo:规定可接受的平均无故障时间;
a:生产方风险;
B:使用方风险;
Dm:平均无故障时间鉴别比。
生产方风险a是当实际m=m0时,设备被拒收的概率。
使用方风险B是当实际m=m1时,设备被接受的概率。这里m1是不可接受的平均无故障时间。
平均无故障时间的鉴别比:Dm=m0/m1。
序贯截尾试验方案一般优先选择4:4试验方案居多。
定时定数截尾试验方案:
mo:规定可接受的平均无故障时间;
a:生产方风险;
B:使用方风险;
Dm:平均无故障时间鉴别比。
生产方风险a是当实际m=m0时,设备被拒收的概率。
使用方风险B是当实际m=m1时,设备被接受的概率。这里m1是不可接受的平均无故障时间。
平均无故障时间的鉴别比:Dm=m0/m1。
定时定数截尾试验方案一般优先选择5:7或5:9方案。
可靠性验证试验前需要准备的资料:
1、产品的相关使用说明书
2、产品的电路板电子元器件清单
3、产品的工作状态说明
4、可靠性试验大纲
5、可靠性指标的考核要求和具体方法
6、可靠性试验大纲中明确具体要求的测试时间和允许的责任故障数。
可靠性试验常用检测标准:
可靠性试验 第 1 部分:试验条件和统计检验原理 GB/T5080.1-2012,IEC 60300-3-5:2001
可靠性试验 第 2 部分:试验周期设计 GB/T 5080.2-2012,IEC 60605-2:1994
设备可靠性试验 可靠性测定试验的点估计和区间估计方法 (指数分布) GB/T 5080.4-1985,IEC 60605-4:1978
设备可靠性试验成功率的验证试验方案 GB/T5080.5-1985 ,IEC 60605-5:1982
设备可靠性试验 恒定失效率假设的有效性检验 GB/T5080.6-1996 ,IEC 60605-6:1989
设备可靠性试验 恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案 GB/T 5080.7-1986,IEC60605-7:1978
通信设备通用规范 GJB 367A-2001
计算机通用规范 GJB 322A-1998
可靠性鉴定和验收试验 GJB 899A-2009
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