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计算机产品振动冲击碰撞型式试验测试报告

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最后更新: 2024-01-25 22:58
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产品详细说明
114检测实验室为深圳某厂家的军用固态硬盘提供了温度冲击和正弦振动测试服务。检测依据按照GJB150.16-86和GJB150.5A-2009标准进行。

温度冲击试验:-60摄氏度~+85摄氏度,温度转换时间小于3分钟,高低温温度点各保持1小时,共循环10次;

正弦振动试验:5hz~5.5hz,位移峰峰值25.4mm;5.5hz~30hz,加速度15m/s2;30hz~50hz,位移峰峰值0.84mm;50hz~500hz,加速度42m/s2;扫频速率为1oct/min,振动三个相互垂的方向,每方向循环20次。

该被测设备在温度冲击和正弦振动试验后,外观结构无损坏,能正常读写数据,符合委托方的判决要求。据计算机基础标准GB/T9813.1-2016计算机通用规范第1部分:台式微型计算机进行试验。

硬盘测试项目示例:

1、正弦振动试验:测试频率5Hz-60Hz,位移峰峰值2.0mm,60Hz-150Hz,加速度0.1g,振动三个相互垂直的X,Y,Z向,扫频速率1Oct/min,循环次数10次;

2、随机振动试验:测试频率5Hz-200Hz,加速度均方根值为1.4m/s2,振动三个相互垂直方向,每方向振动1小时。

3、机械冲击试验:冲击波形半正弦波,加速度30m/s2,脉冲持续时间18ms,冲击三个相互垂直方向的正反向,每方向冲击3次,共计18次冲击。

4、谐振搜索、共振保持:测试频率5Hz-150Hz,扫频速率1oct/min,扫频1次循环,搜索共振点,比如在共振频率点上振动2小时,若没有共振点,则在最高频率点150Hz上振动2小时。





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