温度冲击试验:-60摄氏度~+85摄氏度,温度转换时间小于3分钟,高低温温度点各保持1小时,共循环10次;
正弦振动试验:5hz~5.5hz,位移峰峰值25.4mm;5.5hz~30hz,加速度15m/s2;30hz~50hz,位移峰峰值0.84mm;50hz~500hz,加速度42m/s2;扫频速率为1oct/min,振动三个相互垂的方向,每方向循环20次。
该被测设备在温度冲击和正弦振动试验后,外观结构无损坏,能正常读写数据,符合委托方的判决要求。据计算机基础标准GB/T9813.1-2016计算机通用规范第1部分:台式微型计算机进行试验。
硬盘测试项目示例:
1、正弦振动试验:测试频率5Hz-60Hz,位移峰峰值2.0mm,60Hz-150Hz,加速度0.1g,振动三个相互垂直的X,Y,Z向,扫频速率1Oct/min,循环次数10次;
2、随机振动试验:测试频率5Hz-200Hz,加速度均方根值为1.4m/s2,振动三个相互垂直方向,每方向振动1小时。
3、机械冲击试验:冲击波形半正弦波,加速度30m/s2,脉冲持续时间18ms,冲击三个相互垂直方向的正反向,每方向冲击3次,共计18次冲击。
4、谐振搜索、共振保持:测试频率5Hz-150Hz,扫频速率1oct/min,扫频1次循环,搜索共振点,比如在共振频率点上振动2小时,若没有共振点,则在最高频率点150Hz上振动2小时。
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