北京高低温环境试验及电磁兼容测试实验室

设备的分类
2组设备
包括以电磁辐射、感性和容性耦合形式，有意产生并使用或局部使用9kHz~400GHz频段内射频能量的，所有用于材料处理或检验分析目的，或用于传输电磁能量的工科医射频设备。
1组设备
标准范围内除2组设备以外的其他设备。

A类设备
非居住环境和不直接连接到住宅低压供电网设备中使用的设备。A类设备应满足A类限值。

B类设备
家用设备和直接连接到住宅低压供电网设施中使用的设备。B类设备应满足B类限值。

检测项目
传导骚扰限值
电磁辐射骚扰限值

在试验场地测量的1组设备
传导骚扰限值试验
9kHz~150kHz频段未规定限值。

150kHz~30MHz频段
设备在试验场地测量时使用500Ω/50uH的CISPR人工电源网络(V-AMN)或电压探头(见 7.3.3和图1)。150kHz~30MHz频段的低压交流电源端口骚扰电压限值的规定见表2和表4。
在试验场地测量时,使用150Ω的CISPR网络(DC-AN)(见7.3.2.3和附录I)或电流探头(见GB/T6113.102-2018)。150kHz~30MHz频段的低压直流电源端口骚扰电压限值的规定见表3和表5。

电磁辐射骚扰限值试验
采用准峰值检波器测量时，受试设备应满足准峰值限值。
9kHz~150kHz频段无规定限值
150kHz~1GHz频段
150kHz~30MHz频段无规定限值。30MHz以上频段的限值指电磁辐射骚扰的电场分量。
1组A类和B类设备在30MHz~1GHz频段内的电磁辐射骚扰限值的规定见表6和表7。保护特殊安全无线电业务的专门条款和限值参见附录E和表E.1。在开阔试验场地(()ATS)或半电波暗室(SAC)测量时,A类设备可在3m、10m或30m标准距离下测量(详见表6),而B类设备可在3m或10m标准距离下测量(详见表7)。小于10m的测量距离只适用于符合3.17所规定的小型设备。
如果EUT能放人全电波暗室(FAR)的有效测试区域中,A类和B类设备可以在FAR的3m标准距离下进行测试(详见表6和表7)。按照本标准使用FAR场地测量时仅适用于台式设备。
表6

在试验场地测量的2组设备
传导骚扰限值试验
9kHz~150kHz频段未规定限值。

150kHz~30MHz频段
设备在试验场地测量时使用50Ω/50uH的CISPR人工电源网络(V-AMN)或电压探头(见7.3.3和图1)。除表1中ITU指配给工科医设备使用的频段无适用限值外,150kHz~30MHz频段内的低压交流供电电源端口限值在表8和表9中规定。
对于电焊设备,表8和表9规定的限值适用于运行模式,表2和表4规定的限值适用于待机(或空闲)模式。
对于工作频率在工科医指配频段(见表1中ITU的规定)内的工科医射频照明装置,可采用表9的限值。
注:以额定输入或输出功耗75kVA为例,相当于每相电流约为108A(400V三相供电网络)或每相电流约为216A(200V三相供电网络)。
在待机模式时,高频手术设备应满足表2和表4规定的1组设备限值。对于工作频率在指配工科医频段外(见表1)的高频手术设备,这些限值也适用于其工作频率和指配频段内的频率。相关的测量应按IEC60601-2-2:2009执行

电磁辐射骚扰限值试验
使用带峰值、准峰值或平均值检波器的仪器测量时,受试设备应满足对应表格中的限值要求30MHz以下频段的限值是指电磁辐射骚扰的磁场分量,30MHz以上频段的限值是指电磁辐射骚扰的电场分量。
9kHz~150kHz频段未规定限值。
150kHz~1GHz频段
除表1所列的指配频段外,150kHz~1GHz频段内的电磁辐射骚扰限值规定如下:2组A类设备
在表10中规定,2组B类设备在表12中规定。表10和表12中规定的限值适用于所有频率上的所有电磁骚扰,也包括表1脚注b中的频段。对于A类阻性电焊设备,表10的限值适用于30MHz~1GHz频段内设备处于启动运行状态时的电磁辐射骚扰,表6规定的限值适用于待机(或空闲)状态。对于B类阻性电焊设备,表12的限值适用于设备处于启动运行状态时的电磁辐射骚扰,表7规定的限值适用于待机(或空闲)状态。对于A类弧焊设备,表11中的限值适用于设备处于启动运行状态,表6中的限值为待机(或空闲)状态。对于B类弧焊设备表7中的限值适用于设备处于启动运行状态及待机(或空闲)状态。
对于A类EDM设备,限值见表11。
对于工作频率在工科医指配频段(见表1中ITU的规定)内的工科医射频照明装置,可采用表12的限值。
运行在待机模式时,高频手术设备应满足表6和表7所规定的限值保护特殊安全业务的专门条款和限值参见附录E和表E.1。
在OATS或SAC中测量时,A类设备可在3m、10m或30m距离下测量,而B类设备可在3m或10m距离下测量(见表10和表12)。
在30MHz~1GHz频段内,3m的测量距离只适用于符合3.17所规定的设备如果EUT在放入全电波暗室的有效测试区域中,A类和B类设备可以在全电波暗室的3m标准距离下进行测试。按照本标准使用FAR场地测量时仅适用于台式设备。除EDM或弧焊设备的2组A类或B类设备,在FAR场地进行30MHz~1GHz测量时,应补充150kHz~30MHz频率范围内在()ATS或SAC骚扰场强的磁场分量的测量,见表10的脚注b和表12的脚注c。
 

GB4824-2019《工业、科学和医疗设备射频骚扰特性限值和测量方法》广泛应用于大多数的工业设备、家用电器设备、医疗仪器设备进行EMI测试的检测依据，根据产品的划分组类别，选择相应的限值要求进行测量。