加速模型主要是用来描述失效模式的可靠性特征量（平均寿命、特征寿命、失效率）与加速应力水平之间的关系。
一、常用的加速寿命试验加速模型有：
阿伦尼斯模型（Arrhenius）、逆幂律模型、Peck模型、艾林模型
1、阿伦尼斯模型
在加速寿命试验中用温度作为加速应力是非常普遍的，因为高温能使产品的电子元器件、绝缘材料加快化学反映，造成产品提前失效。
阿伦尼斯模型是使用较为普遍的加速试验模型，它也称为热老化模型。
2、逆幂律模型
在加速寿命试验中用电应力如电压、电流、功率作为加速应力也是非常常见的。
逆幂律模型温度变化速率与循环次数满足逆幂律模式：
3、温湿度两综合的加速模型主要有：艾琳模型和Peck模型。
实际试验过程中，高温老化用阿伦尼斯模型、温度循环加速模型用W-E模型和逆幂律模型、温度+湿度两综合应力加速模型用Peck模型和艾林模型、机械应力或电应力采用逆幂律加速模型、也有采用温度+湿度+振动三综合应力加速模型的。
二、产品寿命分布模型
寿命分布模型是系统寿命特征的数学表达方式，对于电子设备统计方法一般采用失效时间建模方法，产品主要有两种状态，故障状态和工作状态。其中指数分布、威布尔分布、对数正态分布是最常见的连续型寿命分布模型，二项分布、泊松分布、超几何分布是最常见的离散型分布模型。
进行产品加速试验和可靠性性评价时需要用到以上相关的加速模型，可以阅读相关的书籍对上述模型进行深入了解。
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