13691093503高低温冲击试验箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业，航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化，测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质，从精密的IC到重机械的组件，都会用到，是各领域对产品测试的必不可少的一项测试箱。
温度冲击箱的要求：
1.采用高温箱和低温箱进行冷热冲击试验，以提供试验样品经受周围空气温度急剧发生变化的环境温度。
2.高温区的要求，应符合GJB150.3-86《军用设备环境试验方法高温试验》的第3章各条所规定的要求。
3.低温区的要求，应符合GJB150.4-86《军用设备环境试验方法低温试验》的第3章各条所规定的要求。
4.提供高温试验部分和低温试验部分，应分别符合GJB150.3-86和GJB150.4-86的第3章各条所规定的要求。
5.温度冲击箱的容积应保证在试验样品放入候补超过试验温度保持时间的10%就能使试验箱（室）温度达到
GJB150.1-89中3.2条规定的试验条件容差范围之内。
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