北京可靠性试验及电磁兼容测试检测中心

北京可靠性环境试验中心环境试验,高低温试验,振动试验,冲击试验,沙尘试验,高低温低气压试验

11、倾跌与翻倒：

电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Ec和导则:倾跌与翻倒 (主要用于设备型样品) GB/T 2423.7-1995，IEC 60068-2-31:1982。

12、砂尘试验：

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验L：沙尘试验 GB/T 2423.37-2006，IEC 60068-2-68:1994 只做：方法La2:恒定气压。

13、盐雾试验：

环境试验 第2部分:试验方法 试验Kb:盐雾，交变(钠溶液) GB/T 2423.18-2012，IEC 60068-2-52:1996；

人造气氛腐蚀试验 盐雾试验 GB/T 10125-2012，ISO 9227:2006；

电工电子产品环境试验  第2部分: 试验方法 试验Ka：盐雾 GB/T 2423.17-2008，IEC 60068-2-11:1981。

14、温度冲击试验：

环境试验 第2部分: 试验方法 试验N: 温度变化 GB/T 2423.22-2012，IEC 60068-2-14:2009。

15、IP防护等级（外壳防护试验）：

外壳防护等级（IP代码）：GB 4208-2008，IEC 60529:2001；

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验R：水试验方法和导则：GB/T 2423.38-2008，IEC 60068-2-18:2000。

16、低温/振动(正弦)综合试验：

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/AFc：散热和非散热试验样品的低温/振动(正弦)综合试验 GB/T 2423.35-2005，IEC 60068-2-50:1983。

17、高温/振动(正弦)综合试验：

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/BFc：散热和非散热试验样品的高温/振动(正弦)综合试验  GB/T 2423.36-2005，IEC 60068-2-51:1983。

18、温度（低温、高温）/低气压/振动（随机）综合试验：

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/ABMFh：温度（低温、高温）/低气压/振动（随机）综合 GB/T 2423.59-2008。

19、温度（低温、高温）/低气压/振动（正弦）综合试验：

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验：温度（低温、高温）/低气压/振动（正弦）综合    GB/T 2423.102-2008。

20、北京可靠性试验：

设备可靠性试验 恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案：GB/T 5080.7-1986，IEC 60605-7:1978；

设备可靠性试验 恒定失效率假设的有效性检验：GB/T 5080.6-1996，IEC 60605-6:1989；

设备可靠性试验成功率的验证试验方案：GB/T 5080.5-1985，IEC 60605-5:1982；

设备可靠性试验 可靠性测定试验的点估计和区间估计方法 (指数分布)：GB/T 5080.4-1985，IEC 60605-4:1978。

可靠性试验 第2部分：试验周期设计 GB/T 5080.2-2012，IEC 60605-2:1994；

可靠性试验 第1部分：试验条件和统计检验原理 GB/T 5080.1-2012，IEC 60300-3-5:2001。